偏光显微镜利用液晶态的光学双折射现象，在待有控温热台得偏光显微镜下，可以观察液晶物质的织构，测定转变温度。所谓织构，一般指液晶薄膜（厚度约10-100微米）在光学显微镜，特别是正交偏光显微镜下用平行光系统所观察到的图像，包括消光点或者其他形式的消光结构乃至颜色的差异等。